Võrguseade Fluke IR-aken 50mm, lukustiga

Fluke CV200 ClirVu® 50 mm (2 tolli) infrapunaakenEttevõtte suurim investeering ei ole paneeli ukse taga olevad seadmed; esmatähtis on pakkuda ülimat kaitset elektrikele, inseneridele ja inspektoritele, kes oma tööd tehes iga päev oma eluga riskivad.ClirVu® kate - eksklusiivne Fluke'i infrapunaakende puhul - tihendab optika enne kokkupanekut, et kaitsta niiskuse lagunemise eest, mistõttu sobib see ideaalselt väga kuuma ja väga külma keskkonna jaoks.Iga Fluke'i infrapunaaken tarnitakse koos identifitseerimisplaadiga, mis võimaldab unikaalset nummerdamist kohapeal, mis võimaldab kiiret asukoha kinnitamist ja kiiremat remonti.Turvaklahviga juurdepääsu võimalust vt CV201 IR-aken.CV-seeria infrapunaaknad on saadaval ka 75 mm (3 tolli) ja 95 mm (4 tolli) suuruses.General SpecificationsSize50 mm (2 in)Voltage rangeAnyNEMA environment typeType 4/12 (indoor/outdoor)AutoGround™YesClirVu® opticYesOperating temperature-40°C to +232°C (-40° F to +450°F) and +260°C (500°F) intermittentCompatible with all Fluke camerasYesJam nut locking systemYesCover and fastener permanently attachedYesSingle-hole installYesHand turn and security key door latch optionsYesVisual inspection and fusion capableYesShort/Mid/Long-wave IR and UV capableYesRatings and TestingArc-tested (IEEE C37.20.7)63 kA for 30 cycles @ 60 Hz at KEMACSA C22.2 No.YesCSA type ratingType 4IP ratingIP67 at TUVLloyds registerUp to 11 kV marine switchgear, indoor or outdoor (offshore only)Vibration ratingIEC60068-2-6 at TUVHumidity ratingIEC60068-2-3 at TUVInstallActual mounting hole diameter required61.37 mm (2.416 in)Greenlee® punch kit = punch/die76BB = 441AV/442AVRecommended max panel thickness10 gageOverall window height112.9 mm (4.45 in)Overall window width83.0 mm (3.27 in)Overall window thickness16.2 mm (0.64 in)Door latchHand TurnOpticsOptic insert diameter50 mm (1.97 in)Viewing aperture diameter42.93 mm (1.690 in)Viewing aperture area1445 mm2 (2.24 in2)Thickness2 mm (0.08 in)OtherWarrantyLifetime replacement against manufacturing defects